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              我司在上海某高校成功安裝基于Janis 探針臺和Keithley 4200半導體特性儀的測試系統

                  我司于20171月在上海某高校成功安裝基于Janis 探針臺和Keithley 4200半導體特性儀的測試系統。該探針臺配置四個三同軸探針臂和兩個光纖探針臂,漏電流優于50fA。該探針臺變溫范圍大(8K-675K。我司提供Keithley 4200半導體特性儀,并提供集成變溫IV、CV和輸運和轉移特性等測試軟件。


                  

                        變溫測量IVVI曲線           變溫場效應管(橫坐標Vgs,縱坐Ids,

                                              不同曲線代表不同的Vds和溫度)

                                

                 

              變溫場效應管(橫坐標Vds,縱坐標Ids,     變溫CV測試(橫坐標電壓,縱坐標

              不同曲線代表不同的Vgs和溫度)           電容,不同曲線代表不同溫度)  


              2017-01-13

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